设备特点

自主设计高亮度缺陷检测光源、图像采集系统

创新性AI外观缺陷检测软件

高精度、高稳定性、高速检测系统

设备参数

外形尺寸：1900mm*1200mm*2000（L*W*H）

适用产品：50×50mm ~ 90×260mm

检测效率：0.2 ~ 0.3 s / 图

分辨率：≤ 0.003mm ~ 0.02mm

过检率：≤ 0.2%

漏检率：≤ 0.03%

缺陷种类：芯片漏装、芯片装反、芯片损伤、沾胶、起泡、虚焊、金球形状、焊线错漏倾斜塌陷等